BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布，Zeta 电位，高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
基本性能指标
粒径检测
原理原理 | 动态光散射技术 |
粒径范围 | 0.3 nm – 15 μm |
样品量 | 3 μL – 1 mL |
检测角度 | 90 ° + 12° |
分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
Zeta电位测试
原理原理 | 相位分析光散射技术 |
检测角度 | 12° |
Zeta范围 | 无实际限制 |
电泳迁移率范围 | ＞±20 μ.cm/V.s |
电导率范围 | 0 - 260 mS/cm |
Zeta测试粒径范围 | 2 nm – 110 μm |
分子量测试
分子量范围 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流变测试
测试能力 | 均方位移、复数模量、弹性模量、粘性模量、蠕变柔量 |
折光率和粘度测试
粘度范围 | 0.01 cp – 100 cp |
折光率范围 | 1.3-1.6 |
趋势测试
系统参数
温控范围 | -15°C - 110°C ，精度±0.1°C |
冷凝控制 | 干燥空气或者氮气 |
标准激光光源 | 50 mW 高性能固体激光器， 671 nm |
相关器 | 最快25 ns采样，最多 4000通道，1011动态线性范围 |
检测器 | APD （高性能雪崩光电二极管） |
光强控制 | 0.0001% - 100%，手动或者自动 |
软件
检测参数
●颗粒体系的光强、体积、面积和数量分布
●颗粒体系的 Zeta 电位及其分布
●分子量
●分布系数 PD.I
●扩散系数 D
●流体力学直径 DH
●颗粒间相互作用力因子 kD
●溶液粘度
检测技术
●动态光散射
●电泳光散射
●相位分析光散射
●静态光散射
选配件
BeScan稳定分析仪是基于多重光散射原理的样品稳定性分析设备，通过检测得到样品随空间分布、时间、温度的不稳定性变化，并给出不稳定性指数IUS，粒子迁移速度及样品粒径随时间的变化曲线等信息。 BeScan灵敏的光学系统可以给出超过肉眼200倍以上的灵敏度，能更好的洞悉样品的微观结构变化，从而极大的节约检测时间，缩短配方研制周期。BeScan与BeNano联合使用，通过定量的IUS和Zeta电位信息研究样品的变化及其原因。
相关技术
